掃描電鏡：利用電子束對(duì)組織或細(xì)胞表面結(jié)構(gòu)進(jìn)行掃描，能提供樣品的表面結(jié)構(gòu)信息。 客戶提供：細(xì)胞樣本、組織樣本、掃描要求 我們提供：掃描照片

透射電子顯微鏡（TEM）在材料科學(xué)、生物學(xué)上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會(huì)影響到Z后的成像質(zhì)量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時(shí)的樣品需要處理得很薄。常用的方法：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。透射電鏡的樣品制備過(guò)程一般包括取材、前固定、后固定、脫水、浸透、包埋、超薄切片和染色等步驟